精密测试探针英文名Test probe，是精密电测试过程中必不可少的部件。在电子电路研发和生产的过程中，经常需要对信号的通断以及质量进行测试分析，这个时候就需要使用精密测试探针将信号无损的接取出来提供给相应的ICT或者测试系统进行整合分析，测试探针质量的好坏，很大程度影响了测试的准确性以及可重复性。目前国际间比较知名的测试探针品牌有 QA，Ingun，IDI，PTR，FM，Leeno等。
按照测试探针的应用领域来区分，测试探针又分为常规ICT探针、半导体测试探针、RF高频测试探针、大电流探针、电池接触探针。
按照探针的结构来区分，还可以分为常规单头弹簧针、双头BGA测试针、针套转接双头针等类别。
在探针的选型前期，需要重点考虑的几个参数分别为：测试探针的间距、选择待测对象合适的头型、测试承载的电流、测试运动的行程以及需要选择的弹力等。
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